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DLI-400光积分/光周期测量计

DLI-400光积分/光周期测量计用于测量370~ 650nm的太阳光光合有效辐射(PAR),同时可计算日光积分(DLI)和光周期。
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产品描述
参数
技术参数

DLI-400光积分/光周期测量计用于测量370~ 650nm的太阳光光合有效辐射(PAR),同时可计算日光积分(DLI)和光周期。

PAR、DLI和光周期影响植物的生长和发育,通常在温室和生长室中测量它们以帮助进行光照管理和决策。DLI是指24小时内入射在一个平面上的PAR或扩展PAR(ePAR)的总量,单位为µmol /m²s。光周期是24小时内PAR或ePAR入射的总时间,以小时(h)为单位表示。

DLI-400测量仪有两种不同的屏幕模式:存储数据和实时查看数据。在存储数据屏幕中,它显示DLI测量值、光照时间和哪一天收集的数据(最多99天以前)。实时查看数据屏幕显示过去2.5秒内PPFD的运行平均值。

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测量重复性

小于 0.5%

显示范围

0 ~ 4000 μmol/m2s

长期漂移

<2%/

视场

180°

光谱测量范围

370~ 650nm(太阳光)

定向(余弦) 响应

±5% (75° 天顶角)

温度响应

-0.04 % /

响应时间

2.5s

测量频率

3分钟

数据记录容量

99天(DLI 和光周期)

10天(30分钟 PPFD/ePPFD 平均值)

非线性

<1%(< 2500μmol/m2s时)

数据分辨率(PPFD)

0.1μmol/m2s(≥1000时,屏幕不显示小数)

存储数据分辨率(DLI)

0.1mol/m2d

存储数据分辨率 (光周期)

0.1小时

数据传输

通USB-C ,CSV 文件

模数转换器分辨率

24

工作环境

-10℃ ~60 ℃,0~100% RH

防护等级

IP65

供电

AAA(7号)x2节电池,可更换,约6个月

质量

67g

技术文档

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